|
天津市科诺利达科技发展有限公司 
| 联系人：周显军 先生 (总经理) |
 |
| 电 话：022-23859901 |
|
| 手 机：13302160136 |
|
|
|
 |
|
 |
|
| 供应紫外可见分光光度计 |
技术参数：
型号 UV-4501/4501s
波长范围 190—1100 nm
波长准确度 ±0.3nm
波长重复性 ±0.2 nm
透射比准确度 ±0.5％T
透射比重复性 0.3%T
杂光 ≤0.10%T在220nm，340 nm处
稳定性 0.002A/h 在500nm处 0.002A/h 在500nm处
0.002A/h 在500nm处 0.002A/h 在500nm处
噪声 ±0.10％T
光学系统 自准式，双光束，1200条/毫米衍射全息光栅
光谱带宽 0.5nm,1nm,2nm,4nm
波长精度 0.3 nm
波长显示 0.1 nm
光度范围 CONC:0--9999
Abs:-0.342--4.000A
E:0--1000
T:0--220％T
数据输出 USB标准接口
打印输出 并行打印口，HP，EPSON喷墨激光兼容打印机
仪器尺寸 640mm（长）×450 mm（宽）×260mm（高）
重量 30Kg
电源 AC220V/50Hz（或按用户要求）
光源 进口氘灯、溴钨灯
功率 200W（主机）
产地 中国
主要特点：
UV4501、UV4501S紫外可见分光光度计采用双光束动态反馈比例记录测光系统定性。保证低的杂散辐射率及优异的成像质量，波长自动校正系统，狭缝可调确保了仪器的高精度，高稳定性及可靠性。
※ 优良的光学系统，先进的电子学系统，保证了0.015%T的低杂散光
※ 采用进口全息光栅，实现了低杂散光；
※ 单光束扫描式基线记忆系统，基线记忆分辨率0.1nm
※ 双光束动态反馈比例记录测光系统保证了基线稳定性；
※ 最快扫描速度800nm／分，可记忆全波长范围基线。
※ LCD大屏幕显示、轻触式按键，外观新颖操作方便。
※ 仪器自检系统，可以检验各执行部件的到位动作状态，并可将结构告知用户。
※ 计算机及打印机输出系统：
※ 定波长测试T，A ，C
※ 扫描间隔0.1、0.2、0.5、1、2、5nm
※ 扫描速度高、中、低三级
※ 扫描区间任意输入
※ 软件可在线升级
※ 丰富的定量分析软件和光谱扫描及处理软件；
※ 有蠕动进样器、超微量池架、恒温池架、光学积分球、镜面反射、光纤附件和比色皿系列等大量用户可选专用附件，使仪器的应用范围大大扩展。
软件功能详细介绍
光谱扫描：A：扫描间隔：0.1、0.2、0.5、1.0、2.0、5.0nm
B：扫描区间可任意输入
C：高、中、低三档扫描速度可自选
D：坐标参数、扫描次数、T/A/E模式皆可自选
E：有寻找波峰、谷功能 |
 |
| |
|
|
 |
|
|
免责声明： 以上所展示的信息由会员自行提供，内容的真实性、准确性和合法性由发布会员负责，企业录对此不承担任何责任。如有侵犯您的权益，请来信通知删除。